EDAX是**材料表征系统的**供应商，提供能量仪（EDS），电子背散射衍射仪（EBSD），波谱仪（WDS），集成系统（EDS-EBSD，EDS-WDS，和EDS-EBSD-WDS），和微束X射线荧光能谱仪（Micro-XRF）。
EDAX隶属于美国AMETEK，50年来，一直致力于为用户提供先进的技术、**的性能、可靠的仪器和满意的售后服务。
TEAM™扫描电镜能谱仪配备Octane SDD系列探测器，适合广泛的应用, 具有许多智能功能，是业界*直观易用的分析工具。
智能功能和准确结果
TEAM™ 扫描电镜能谱仪，适合广泛的应用，可以帮助用户节省时间，获得准确可重复的结果。无论是简单地采谱或者复杂的相分析，用户都可以快速方便地得到想要的结果。此系统具有许多智能功能：
启动
智能诊断（Smart Diagnostics）的环境面板实时监控系统状态，报告探测器、样品台、镜筒等的运行条件，允许**控制。智能采集自动化了常规操作，方便了使用，节省了时间。
分析
智能相分布（Smart Phase Mapping）自动收集能谱，产生含有元素分布和谱信息的相分布图，将能谱分析提高到一个新的层次。点分析和线扫描使用下一代的Expert ID, 可以便捷地采集分析所选区域中的1点或多点。
报告
智能数据复查（Smart Data Review）采用**的布局和项目树，可方便快速地复查报告图片、面分布图和谱图，并在报告中动态编辑数据。
TEAM™ EBSD - 强大的OIM™与易用的 TEAM™
TEAM™ EBSD系统集强大的OIM™ 分析功能与直观易用的TEAM™ 界面于一体，为所有的用户提供业界*先进的晶体结构表征。
使用方便：
3点击流程
3点击完成从启动分析到报告生成
智能功能
自动优化系统设置、数据采集、分析和报告生成
灵活控制
**用户设置的充分访问和控制
智能功能：
智能相机（Smart Camera）
自动优化EBSD相机设置
智能背景（Smart Background）
智能背景收集和处理
智能标定（Smart Indexing）
**的三条带组标定和置信因子为用户提供准确的EBSD结果
智能数据管理
直观灵活的数据管理系统保持工作有条不紊
动态面分布：
TEAM™ MASCOT
使用TEAM™ MASCOT工具，交互地选择EBSD图像质量图，晶体取向图、相图和SEM图
实时性
数据采集的同时，可观察结果，从而确保数据质量，并直接洞察材料
*大洞察力
结合灰度图和彩图，*大化信息量
报告：
TEAM™ 报告
有效地组织和输出结果，输出格式包括标准Microsoft Office文档及Adobe PDF文档
快速报告
提供EBSD点分析和面分布的数据总结和综合分析
定制报告
允许用户裁剪报告内容及布局，以满足具体的分析需求
OIM™分析
使用可定制的特定应用的模板，直接访问OIM™分析，提供**EBSD报告
相机：
TEAM™ EBSD兼容市场**的高速高灵敏Hikari XP相机和高分辨率DigiView相机。
TEAM™ EBSD使结构表征变得比以前更加容易，它将更多的解决方案放在用户手里，再次证明EDAX是解决材料分析挑战的答案。
TEAM™ 波谱仪（WDS）
TEAM™ 波谱仪（WDS）使用平行光波谱仪和TEAM ™软件。为了补充EDS轻元素分析或者元素重叠峰分离的不足，用户经常会使用波谱仪（WDS）。 WDS具有更高的分辨率和灵敏度，可以更好地分离重叠峰，揭示微量元素，给用户提供一个清晰的化学成分画面。WDS既可用于定性分析也可用于定量分析。
谱仪：TEAM™ WDS兼容两款平行光谱仪；LEXS-低能量谱仪和TEXS HP--全能量段谱仪
● LEXS 使用高收集光学器件产生平行X射线束，具有**的轻元素性能，工作能量范围为80eV～2400eV (B Ka ～ S Ka)
● TEXS HP 使用毛细管光学器件产生平行X射线束，适合分析低能量段和过度元素能量段，工作能量范围为150 eV ～ 10 keV (B Ka ～ Cu Ka)
● LEXS和TEXS HP标配五块衍射晶体，针对性地解决用户一系列特定的应用需求
● LEXS和TEXS HP设计紧凑，可以轻松地装配在扫描电子显微镜（SEM）多数EDS端口，给用户更大的配置自由度
TEAM™ WDS软件
TEAM™ WDS具有智能聚焦（Smart Focus）功能，一个全自动聚焦例程，**优化了WDS分析。智能聚焦功能自动优化样品台的位置以保证每个元素获得*大的X射线强度。它将速度和易用性提高到一个新的水平，确保**次迭代就可获得*高质量的数据。 用户只需选择一个元素或者一个能量范围，点击鼠标三次，就可解决一个EDS谱峰重叠，无需担心聚焦光束。
应用
TEAM™ WDS可以**地解决以下问题：
● 低电压显微分析 – 当低于5 keV的X射线数据时，只有WDS的高分辨率才能达到所需的准确度，无论定性分析还是定量分析
● 峰重叠 - 特别是在4 keV和10 keV能量之间，过渡元素的K线和耐火元素L线显著重叠
● 痕量分析 - 确定一个复杂矩阵中微量元素的含量
EDS-EBSD-WDS 一体化技术 ：
TEAM™ Pegasus : 一体化EDS-EBSD
为了**了解一个材料，无论是天然的还是人工的，科学家经常
需要确定其物理性质、化学成分、晶体结构和形态之间的关系。
TEAM™ Pegasus可同步收集EDS数据（成分）和EBSD数据
（晶体结构），在材料的元素组成和微结构方面建立直接关联。
微束X射线荧光能谱仪(Micro-XRF)
Orbis微束X射线荧光能谱仪
Orbis可以对各种类型、尺寸的样品进行先进的无损元素分析，不需样品制备，不需涂层。它可以对多元素进行快速同步的X射线检测，含量灵敏度从百万分之几到100%。用户可以对小样品进行元素分析，如颗粒，碎片和夹杂物，也可以对大样品进行自动多点和成像分析。
Orbis是一款台式仪器，可以在空气或低真空条件下，测量从Na到BK的元素。因为X射线具有穿透力和较大的光斑，Orbis比扫描电子显微镜更适合分析较大特点的样品。Orbis Vision 软件强大易用，可提供**的元素分析。
**的X射线光学/视频器件几何设计
Orbis安装了垂直于样品的先进的X射线光学器件和高质量的视频像机，适合更大范围的样品形状。这种**的设计提供了真正的“你所看到的就是你所分析的”的能力。由于X射线束的阻挡而导致的错误测量，可以很容易地被检测到。如果相机的视野受到阻挡，X射线也会受到阻挡。当测量有地形的样品时，可以消除X射线束的阴影。此外，在仪器设计的工作距离外，定性分析更容易。
广泛的应用：
Orbis适合各种应用，包括刑事取证、工业质量控制和无损检测，还有材料、电子和地质样品分析。
Orbis 型号
Orbis有两个型号：Orbis SDD 和 Orbis PC SDD。两个型号都使用Orbis Vision 软件，都有多个选项，覆盖广泛的需要高精度非破坏性元素分析的应用。
